Одно- и двухпортовый зонд DC~110 ГГц, ручной зонд DC~40 ГГц

Радиочастотный зонд — это ключевой инструмент для тестирования высокочастотных сигналов, широко используемый при измерении и анализе электронных схем, полупроводниковых приборов и систем связи.

Характеристики:
1. Высокоточное измерение: радиочастотные зонды позволяют точно измерять параметры радиочастотных сигналов, такие как частота, амплитуда, фаза и т. д. Специальная конструкция и процесс изготовления обеспечивают точность и надежность данных измерений.
2. Быстрый отклик: Скорость отклика радиочастотных зондов очень высока, измерение сигнала может быть завершено за очень короткое время, что отвечает потребностям экспресс-тестирования.
3. Хорошая стабильность: При длительном использовании характеристики радиочастотного зонда стабильны и не подвержены влиянию окружающей среды или других внешних факторов.
4. Возможность передачи на высоких частотах: радиочастотные зонды способны обрабатывать сигналы на частотах до десятков ГГц и даже выше, что делает их подходящими для тестирования современных высокочастотных цепей и коммуникационного оборудования.

Приложение:
1. Тестирование систем связи: Применимо к системам связи, радарам и радиочастотным интегральным схемам. Используется для оценки и оптимизации радиочастотного спектра, мощности радиочастотного сигнала и характеристик модема.
2. Тестирование радиолокационной системы: измерение чувствительности, частотной характеристики и помехоустойчивости приемника радиолокационной системы.
3. Тестирование радиочастотных интегральных схем: анализ и оптимизация частотных характеристик, энергопотребления и теплового режима интегральных схем.
4. Тестирование антенны: Оценка и оптимизация характеристик антенны.
5. Система радиоэлектронной борьбы: используется для тестирования и анализа радиочастотных характеристик оборудования радиоэлектронной борьбы.
6. Измерение характеристик микроволновых интегральных схем (MMIC) и других устройств, а также возможность измерения истинных характеристик радиочастотных компонентов на уровне микросхемы.